ＸＡＦＳの基礎と応用

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作品内容

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XAFSの理論・解析法はもちろん、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定まで、XAFSのすべてがわかる研究者必携の１冊です。本書は2002年刊行『X線吸収分光法─XAFSとその応用』（太田俊明編・アイピーシー刊）の全面改訂版です。旧版の良い点を受け継ぎ、新しい測定法や解析法を追加しました。 + 続きを読む

作品情報

出版社	講談社
ジャンル	ビジネス・実用等 > 教育・学問・資格
掲載雑誌
レーベル名	ＫＳ物理専門書
シリーズ
電子版発売日	2017/12/22
紙の本発売日	2017/07/21 ( 2010年代 )
ページ数：	P352
対応端末